Projekt se pokouší o vylepšení stávající metody nazývající se elektronová paramagnetická rezonance. Její obdoba je veřejnosti spíše známá jako jaderná magnetická rezonance, se kterou se mohou setkat hlavně při vyšetřeních v nemocnici. „Unikátnost projektu je dána dvěma souvisejícími faktory. Zaprvé bychom měli navýšit pracovní frekvenci elektromagnetického záření používaného ve spektometrech EPR přibližně o jednu úroveň výše. A za druhé vložením antén vyrobených ze zlata nebo grafenu do paprsku tohoto záření zvýšit citlivost metody až o čtyři řády,“ upřesnil principy projektu profesor Tomáš Šikola, který je koordinátorem mezinárodního týmu.
Vědci navíc věří, že pokud takovou anténu umístí na hrot sondového mikroskopu, je možné provádět metodu elektronové paramagnetické rezonance s doposud nebývalým rozlišením pod 1 mikrometr. To by otevřelo cestu k výzkumu mikroskopických funkčních oblastí odpovědných za vlastnosti materiálů a obecně i k rozvoji metody a její aplikace v odvětvích průmyslu, služeb a bezpečnosti. „Jedná se o velmi náročný úkol jak z vědeckého, tak i technologického hlediska. Z tohoto důvodu je do projektového konsorcia vedle špičkových vědeckých pracovišť jako Stuttgartská univerzita, nanocentrum Nanogune v San Sebastianu a CEITEC VUT zařazena také anglická firma Thomas Keating, patřící ve světě k průkopníkům terahertzové techniky. Rovněž budeme využívat znalosti CEITEC spin-off firmy NenoVision, zejména v oblasti návrhu a konstrukce techniky nového rastrovacího sondového mikroskopu,“ doplňuje Šikola.
Význam účasti českého výzkumného týmu je umocněn skutečností, že je to poprvé, co český tým v takto prestižním projektu působí v roli koordinátora projektu, a je tak hlavním „hráčem“ projektového týmu. „Uvedený úspěch je dalším potvrzením rostoucího významu centra CEITEC na poli nejen české, ale i světové vědy,“ uzavírá profesor Šikola, který na CEITEC VUT zodpovídá za výzkumný program Pokročilé nanotechnologie a mikrotechnologie.
Výzvu FET Open vyhlašuje Evropská komise. Projekt PETER navrhuje využití zesílené plasmonové elektronové paramagnetické rezonace v kombinaci s rastrovací mikroskopií ve vysoce citlivé a lokalizované analýze paramagnetických materiálů.
Více info o výzvě FET Open ZDE.
Autor tiskové zprávy:
Odborný kontakt:
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.
